纳米薄膜分析基础 : [英文本] | Fundamentals of nanoscale film analysis影印版
作者:
T. L. Alford,L. C. Feldman,J. W. Mayer[编著]
ISBN:
9787030222596
出版日期:
2008-06
版次:
1
中图分类号:
TB383
附注信息:
本书主要研究了材料表面及从表面到几十乃至100纳米深的结构与构成。主要讨论了用入射粒子和光子来量化结构并进行成分和深度分析的材料表征方法,详细介绍了各种分析和扫描探针显微技术。

    返回顶部