超大规模集成电路设计. Ⅱ : 逻辑与测试
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作者：
树下行三
ISBN：
7030024575
出版日期：
1991-12
版次：
1
中图分类号：
TN.104
学科分类：
动力与电气工程
电子与通信技术
丛书：
微电子学讲座
附注信息：
据日本岩波书店1985年版译出
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图书简介：
本书从基础理论到最新发展，介绍了集成电路设计中的逻辑设计与测试技术。其中包括布尔代数、逻辑设计、逻辑模拟、测试系统的生成及易测性设计。
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